正確答案是：C: 橫坐標(biāo)是預(yù)測(cè)變量，縱坐標(biāo)是殘差。

### 專業(yè)分析

在回歸分析中，殘差圖是用于檢驗(yàn)?zāi)Ｐ蛿M合效果的常用工具。殘差圖幫助分析師判斷模型是否滿足線性回歸假設(shè)，比如殘差的獨(dú)立性和同方差性。

#### 殘差圖的組成：

- **橫坐標(biāo)（X軸）**：通常為預(yù)測(cè)變量（或者說是自變量的擬合值），即模型輸出的預(yù)測(cè)值。這是因?yàn)椋覀円^察的是針對(duì)這些預(yù)測(cè)值，殘差（真實(shí)值與預(yù)測(cè)值的差異）如何表現(xiàn)。

- **縱坐標(biāo)（Y軸）**：為殘差，計(jì)算方法為實(shí)際觀察值減去預(yù)測(cè)值。圖中顯示的殘差可以反映擬合誤差的分布情況。

#### 使用殘差圖的目的：

- **檢測(cè)非線性**：如果殘差圖顯示某種系統(tǒng)模式或曲線形狀，則表明非線性關(guān)系存在。

- **觀察方差齊性**：理想情況下，殘差應(yīng)該隨機(jī)地分布在零線兩側(cè)，而不顯示隨預(yù)測(cè)值變化而變化的模式。

- **發(fā)現(xiàn)異常值和離群點(diǎn)**：通過殘差圖容易識(shí)別顯著偏離零線的點(diǎn)，這些可能是數(shù)據(jù)中的異常值。

在回歸分析實(shí)務(wù)中，選項(xiàng)C的表述是正確的。通過分析殘差圖，分析師可以進(jìn)一步評(píng)估模型的適用性和準(zhǔn)確性。